摘要
日本特許廳於平成12年（2000年）起實施關連出願連攜審查制度，由專利申請人主動申請，將隔年預審期間之專利申請案件中，以技術觀點將具有相關連的專利申請案編組，以書面資料提供日本特許廳參與關連出願連攜審查；我國則於民國100年（2011年），邀請半導體、面板、電腦、資通等領域企業或研究機構依其意願參與發明專利關聯案聯合面詢試辦措施，由專利申請人將具有技術關聯性的一系列申請案件申請聯合面詢，辦理聯合面詢後，以一期限內發出審查意見。本文主要介紹日本特許廳關連出願連攜審查制度，同時與我國發明專利關聯案聯合面詢試辦措施進行比較，並針對此措施作簡單評析。

前言
我國發明專利關聯案聯合面詢（以下簡稱聯合面詢）試辦措施之主要目的係為加速產業、學界及個人研發創新成果及早獲得專利保護，並可藉由群組式審查方式對其特定重點技術領域建構完整專利戰略及布局，專利申請人得就發明專利初審案提出聯合面詢申請意願，由審查人員透過面詢進行群組式集中審查，以利迅速理解申請案技術內容，進而提昇專利案件審查效能及速率。翻閱各國專利局相關制度，僅發現日本特許廳具有相似概念之制度設計，其名稱為「關連出願連攜審查（以下簡稱連攜審查）制度」，因此基於本試辦措施之設計目的及參酌日本特許廳連攜審查制度之相關設計，得以完備我國聯合面詢實施方案初步架構。本文主要以介紹日本特許廳關連出願連攜審查制度相關設計，並輔以說明我國與日本制度上之差異。

• 相關連結: https://www.tipo.gov.tw/tw/cp-182-315533-ef623-1.html
• 智慧財產局刊登日期: 2012/12
• 本網站刊登日期: 3/4/2013